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特大功率IGBT靜態參數測試與分析系統
- 分類:新聞資訊
- 作者:
- 來源:
- 發布時間:2021-08-27
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【概要描述】 KEW3500測試主機與HCD大電流臺選件鏈接成測試系統,可測試IGBT參數包括了ICES、BVCES、IGESF、IGESR、VGETH、VGEON、VCESAT、ICON、VF、GFS、RCE等全直流參數,所有小電流指標保證1%重復測試精度,大電流指標保證2%以內重復測試精度。陽極可擴展至500A、1000A、1250A、1500A、2500A。
特大功率IGBT靜態參數測試與分析系統
【概要描述】 KEW3500測試主機與HCD大電流臺選件鏈接成測試系統,可測試IGBT參數包括了ICES、BVCES、IGESF、IGESR、VGETH、VGEON、VCESAT、ICON、VF、GFS、RCE等全直流參數,所有小電流指標保證1%重復測試精度,大電流指標保證2%以內重復測試精度。陽極可擴展至500A、1000A、1250A、1500A、2500A。
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- 發布時間:2021-08-27
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KEW3500測試主機與HCD大電流臺選件鏈接成測試系統,可測試IGBT參數包括了ICES、BVCES、IGESF、IGESR、VGETH、VGEON、VCESAT、ICON、VF、GFS、RCE等全直流參數,所有小電流指標保證1%重復測試精度,大電流指標保證2%以內重復測試精度。陽極可擴展至500A、1000A、1250A、1500A、2500A。
針對目前封裝的多單元IGBT特征,根據用戶需要提供4/8/20單元掃描測試適配器,從而實現多單元封裝器件的一次性全參數測試。
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