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SiC 功率器件動態參數測試系統

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SiC 功率器件動態參數測試系統

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產品描述

參數

1.測試產品：Sic FRD,MOSFET(兼容Si基產品)

2. 測試能力：

2.1. 開關時間測試

測試條件： ID：1A～200A, VDS：5V～3500V, VGS：-10V～20V, Rg：手動可調，

　　　　　　　　　阻性，感性負載可切換。

測試參數: td(on)\ tr\ td(off)\tf：0.1nS -200nS， Eon\Eoff：10uJ~100mJ

2.2. 反向恢復特性測試

測試條件：IF：1A～200A , VR：5V～3500V, di/dt：50A/us～10000A/us

測試參數: trr：0.1nS -200nS,Qc：1nC~100uC, Irm：1A~200A , Erec：0.1uJ～1mJ

2.3. 柵極電荷測試

測試條件： VDS：5V～3500V，ID：1A～200A, VGS：-10V～20V

測試參數： Qgon、Qgd、Qgs：1nC~100uC，Vpl：-10V～20V

2.4. 短路電流測試

測試條件：Pulse width：1us～100us, VDS：5V～3500V

測試參數： Peak ID：10A~1000A, Delta Vds：10V~200V

3.控制界面

上位機使用Labview界面開發，該程序體現為人機交互界面，作為測試平臺的交互系統，通過與示波器、主控板等設備通訊，實現對設備的自動遠程操作并指示示波器進行數據采集、在界面上復現示波器的測試波形、并對測試波形進行分析、計算，最終得到結果進行顯示和存儲。

關鍵詞:

{商品名稱}

{商品分類名稱}

功率器件測試設備

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