熱門關鍵詞：晶體管測試儀 晶體管圖示儀 碳化硅器件測試儀 SiC器件測試儀 雙脈沖測試儀 電壓耐量測試設備 門極絕緣柵單元觸發器實驗儀
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分立器件測試儀
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產品描述
參數
分立器件測試儀主要技術參數
分立器件測試儀系統主要技術參數列表如下：
主極電壓 2000V(加選件可擴展至3300V)
主極電流 50A(加選件可擴展到100A至2500A)
控制極電壓 20V(加選件可擴展到80V)
控制極電流 10A(加選件可擴展到40A)
電壓分辨率 1mV
電流分辨率 100pA(加選件可擴展到1pA)
測試速度 5ms/參數
3300V、2500A以上可訂制
可測試器件種類
該系統是專為測試大功率半導體分立器件而設計。它具有十分豐富的編程軟件和強大的測試能力，能夠真實準確測試以下19個類型的半
導體器件以及相關器件組成的組合器件、器件陣列：
器件測試種類
|
二極管 |
DIODE |
|
穩壓（齊納）二極管 |
ZENER |
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晶體管 |
TRANSISTOR(NPN/PNP) |
|
單向可控硅（普通晶閘管） |
SCR |
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雙向可控硅（雙向晶閘管） |
TRIAC |
|
金屬－氧化物－半導體場效應管 |
MOSFET(N-CH/P-CH) |
|
結型場效應管 |
JFET(N-CH/P-CH) |
|
三端穩壓器 |
REGULATOR(正電壓／負電壓，固定／可變） |
|
絕緣柵雙極大功率晶體管 |
IGBT(N-CH/P-CH) |
|
光電耦合器 |
OPTO-COUPLER(NPN/PNP) |
|
達林頓陣列器件 |
DARLINTON |
|
光電開關管 |
OPTO-SWITCH |
|
繼電器 |
RELAY(A,B,C型） |
|
金屬氧化物壓變電阻 |
MOV |
|
壓變電阻 |
VARISTOR |
|
智能功率模塊 |
IPM |
|
集成功率模塊 |
PIM |
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分立器件測試儀
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IGBT靜態參數測試系統
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