適用于SiCFRD,MOSFET(兼容Si基產品)、IGBT模塊、 MOS管(兼容Si基產品)等器件的時間參數測試，是目前國內動態參數測試功能最齊全、性能最先進的測試系統。

 測試能力：

IGBT開關時間測試 

測試條件： ID：1A～200A, VDS：5V～3500V, VGS：-10V～20V, Rg：1R～100R 可調(可選擇4擋和外接)

負載：阻性，感性負載可切換。

電感范圍：100uH，200uH，500uH，1000uH

電阻范圍：0.5R、1R、2R、4R

測試參數: 

開通延遲td(on)：20Ns – 10uS

關斷延遲時間td（off）：20Ns – 10uS、

上升時間tr：20Ns – 10uS

下降時間tf：20Ns – 10uS

開通能量Eon：0.1～1000mJ

關斷能量Eoff：0.1～1000mJ

二極管反向恢復特性測試

測試條件：IF：1A～200A  

反向電流VR：5V～3500V

 di/dt：100A/us～10000A/us

負載：感性負載可選

電感范圍：100uH、200 uH、500 uH、1000 uH             

測試參數: trr：0.1nS -200nS

Qc：1nC~100uC

Irm：1A~200A

Erec：0.1uJ～1mJ

柵極電荷測試

測試條件： VDS：5V～3500V

ID：1A～200A

VGS：-10V～20V

測試參數：

Qgon、Qgd、Qgs：1nC~100uC

Vpl：-10V～20V

短路電流測試

測試條件：Pulse width：1us～100us, VDS：5V～3500V

測試參數： Peak ID：10A~1000A, Delta Vds：10V~200V

控制界面：上位機使用Labview界面開發，該程序體現為人機交互界面，作為測試平臺的交互系統，通過與示波器、主控板等設備通訊，實現對設備的自動遠程操作并指示示波器進行數據采集、在界面上復現示波器的測試波形、并對測試波形進行分析、計算，最終得到結果進行顯示和存儲。