熱門關鍵詞：晶體管測試儀 晶體管圖示儀 碳化硅器件測試儀 SiC器件測試儀 雙脈沖測試儀 電壓耐量測試設備 門極絕緣柵單元觸發器實驗儀
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分立器件動態參數測試儀
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產品描述
參數
分立器件動態參數測試儀本測試系統具有高測試精度、高靈敏度、高可靠性、高安全性的特點，實現碳化硅二極管、MOSFET器件開通時間、關斷時間、快恢復二極管反向恢復時間、反向電流及反向恢復電荷等測試，通過計算機控制，示波器采集波形，由計算機處理數據并顯示測試結果，
分立器件動態參數測試儀主要技術參數：
測試產品:SiC FRD,MOSFET（兼容Si基產品）
測試能力：
a、開關時間測試
測試條件：ID：1A~1000A，VDS：5V~3500V，VGS：-10V~20V，Rg：手動可調，阻性，感性負載可切換
測試參數：td（on）\tr\td（off）\tf：0.1nS-200nS，Eon\Eoff：10uJ~100mJ
b、反向恢復特性測試
測試條件：IF：1A~1000A，VR：5V~3500V，di\dt：50A/us~10000A/us
測試參數：trr：0.1nS-200nS，Qc：1nC~1uC，lrm：1A~200A，Erec：0.1uJ~1mJ
c、短路電流測試
測試條件：Pulse width：1uS~100us，VDS：5V~3500V
測試參數：Peak ID：10A~1000A，Delta Vds：10V~200V
關鍵詞:
分立器件動態參數測試儀
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